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顯微鏡下微取樣系統(tǒng)$nCollectionPro：微小礦物自動挑選/采集/集聚系統(tǒng)$n將耗費(fèi)礦物學(xué)研究者時間和精力的挑選、采集、集聚作業(yè)變得省力。$n通過結(jié)合圖像處理系統(tǒng)和AxisPro，可使用自動程序完成對象品的觀察、挑選、采集、集聚。$n也可用于進(jìn)行晶片、玻璃、膜濾器等異物掃描檢查的污染分析儀（圖像處理、挑選、數(shù)據(jù)收集、坐標(biāo)&圖像獲取）。

X射線熒光鍍層X射線熒光鍍層測厚儀可完成鍍層厚度測量、元素分析、電鍍液分析。最多同時測量5層（4層鍍層+底材），每層可同時分析10種元素。成分測量可同時分析25種元素。1納米至120um可測測厚儀

超微小納米壓痕儀通過減少測量環(huán)境的干擾實(shí)現(xiàn)高數(shù)據(jù)再現(xiàn)性，適用于0.5uN-2000mN的廣泛實(shí)驗(yàn)負(fù)載。

顯微鏡LED無掩膜曝光系統(tǒng) UTA-IA系列是不需要使用光罩就可以完成曝光的Pattern投影式曝光設(shè)備。